Publikationen

Test generation for model based fieldbus profiles

Author:
C. Diedrich
S. Magnus
J. Krause
Jahr der Konferenz:
2012
Name der Konferenz:
IEEE International Conference on Industrial Technology - ICIT, 19.-21.03.2012
Veröffentlichungsdatum:
03/2012
Herausgeber:
IEEE
Konferenzort:
Athen/Griechenland
ISBN-Nummer:
978-1-4673-0342-2