Object reconstruction in microwave based non-destructive testing

Author:

M. Nesterov

T. Gagelmann

S. Wöckel

S. Hantscher

J. Auge

Jahr der Konferenz:

2019

Name der Konferenz:

20th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems & Eurosensors XXXIII, 23.-27.06.2019, Berlin

Veröffentlichungsdatum:

06/2019

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Geschäftsfelder:

Messtechnik & Leistungselektronik

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