Publikationen

Objektrekonstruktion in der Mikrowellen-Defektoskopie

Author:
T. Gagelmann
M. Nesterov
C. Li
S. Wöckel
S. Hantscher
J. Auge
Jahr der Konferenz:
2019
Name der Konferenz:
20. GMA/ITG Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2019, 25.-26.06.2019
Veröffentlichungsdatum:
06/2019
Herausgeber:
AMA Verband für Sensorik und Messtechnik e.V.
Konferenzort:
Nürnberg