Publikationen

Objektrekonstruktion in der Mikrowellen-Defektoskopie

Author:
T. Gagelmann
M. Nesterov
C. Li
S. Wöckel
S. Hantscher
J. Auge
Year of Conference:
2019
Conference Name:
20. GMA/ITG Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2019, 25.-26.06.2019
Date Published:
06/2019
Publisher:
AMA Verband für Sensorik und Messtechnik e.V.
Conference Location:
Nürnberg